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13662823519接觸角測試儀測量芯片封裝前的接觸角度
芯片封裝屬于整個半導體產業鏈后段環節,封裝材料由最開始的金屬封裝,發展到陶瓷封裝,再到目前占市場95%份額的塑料封裝,其目的都是一致的:保護芯片、支撐芯片及外形、將芯片的電極和外界的電路連通、導熱性能。
按照連接方式分為:PTH封裝、SMT封裝;按照封裝外形分為:SOT、SOIC、TSSOP、QFN、QFP、BGA、CSP等。芯片封裝形式千變萬化且不斷發展,封裝質量的好壞,將直接影響到電子產品成本及性能。金屬封裝:氣密性好,不受外界環境的影響,但價格昂貴,外形靈活性小,現在金屬封裝所占的市場份額已越來越少;陶瓷封裝:散熱性佳,但是陶瓷需要燒結成型,成本較高,通常使用在結構較復雜的集成電路中。
在陶瓷封裝中,通常采用金屬膏狀印刷電路板作為粘接區和封蓋區。在這些材料表面電鍍鎳和金之前,采用微波等離子清洗,可以去除各種類型的有機污染物,顯著提高鍍層質量。塑料封裝:工藝簡單、成本低,通常使用在結構較簡單、芯片內含有CMOS數目較少的集成電路中。在塑料封裝前,對器件進行清洗,可以增加它們的表面活性,減少封裝空隙,增強其電氣性能。
接觸角測試儀測量芯片封裝前的接觸角度:通過接觸角測試儀,放置芯片樣品,點擊測量軟件,將其移動到液體的底部。在液體輪廓上點擊兩點,包括液體外線,點擊測量軟件下。接觸角度可一鍵擬合生成數據。點擊右鍵保存測量值即可。初始接觸角較大,超過90度,說明測量樣品的潤濕程度較差,疏水性較強。在芯片封裝過程中,如果接觸角高于90度以上,會導致封裝的效果受到影響,經過處理后,接觸角度低于30度。